شماره تماس با تلگرام ::: 09355102506 ::: ir7sad[at ]gmail.com

مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی

مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی::.www.7sad.ir.::

ترجمه مقالات انگلیسی رشته برق و الکترونیک

مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی

ارسال شده توسط 7sad.ir

در بزرگترین وب سایت پروژه و پایان نامه وتحقیق ومقاله و کارورزی وترجمه مقالات جدیدو، نمونه سوالات پیام نور وانجام پایان نامه

www.7sad.ir 

مختصری از مقاله :

دانلودچکیده انگلیسی مقاله

روش‌های خود تست کننده توکار (BIST) الگوسازی تست را انجام می‌دهند و به عملیات‌های تأییدی بر روی تراشه پاسخ می‌دهند. در BIST محاسباتی، ماژول‌هایی که معمولاً در مسیر داده‌ها وجود دارند (انباشتگرها، شمارشگرها و غیره) جهت اجرای عملیات‌های فوق‌الذکر بکار برده می‌شوند. به منظور شناسایی خرابی‌هایی که در مدارات جریان CMOS رخ می‌دهد، تست‌های دو الگویی مورد نیاز می‌باشد. بعلاوه، تست تأخیر که معمولاً اطمینان یافتن از عملیات مدار زمانی با سرعت زمان‌سنجی استفاده می‌شود نیاز به تست‌های دو الگویی دارد. در این مقاله، مولد تست دو الگویی جدیدی برای BIST محاسباتی ارائه می‌شود. اجرای سخت‌افزاری آن بطور مطلوب با روش‌های دیگری که در ادبیات ارائه شده‌اند مقایسه می‌شود. کاربرد طرح پیشنهادی برای تست دو الگویی ماژول‌های ROM آشکار می‌سازد که تست ROMهایی با اندازه کوچک تا متوسط در زمانی منطقی و با بالاسری سخت‌افزاری ناچیزکامل می‌شود.

دانلودچکیده انگلیسی مقاله

چکیده انگلیسی مقاله :

Built-In Self Test (BIST) techniques perform test pattern generation and response verification operations on-chip. In Arithmetic BIST, modules that commonly exist in datapaths ) accumulators, counters, etc.) are utilized to perform the above-mentioned operations. In order to detect faults that occur into current CMOS circuits, two-pattern tests are required. Furthermore, delay testing, commonly used to assure correct temporal circuit operation at clock speed requires two-pattern tests. In this paper a novel two-pattern test generator for Arithmetic BIST is presented. Its hardware implementation compares favorably to the techniques that have been presented in the literature. Application of the proposed scheme for the two-pattern testing of ROM modules revealed that the testing of small-to-medium size ROMs is completed within reasonable time and with negligible hardware overhead.

Keywords: Received 29 June 2010, Received in revised form 18 October 2012 , Accepted 18 October 2012,  Available online 20 November 2012

دانلودچکیده انگلیسی مقاله

نام فارسی مقاله مقاله مواد آزمون دو الگویی مؤثر برای بیست (BIST) محاسباتی
نام لاتین مقاله
An effective two-pattern test generator for Arithmetic BIST q
قیمت ۲۹۰۰۰
رشته حقوق
فرمت مقاله   Word
سال انتشار ۲۰۱۴
تعداد صفحات ۱۸

در صورت بروز مشکل عنوان فایل خریداری شده و ایمیل خود را به شماره ۰۹۳۵۵۱۰۲۵۰۶ ارسال نمائید

برای سهولت در خرید لطفا ” راهنمای خرید ”  را مطالعه نماید.

برچسب , , , , , , , , , , , , , , , , , , , ,

نوشته شده توسط 7sad.ir

پاسخ دهید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

12 + دو =